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芯片失效分析檢測(cè)是判斷芯片失效性質(zhì)、分析失效原因、研究預(yù)防措施的技術(shù)工作。其目的在于提高芯片品質(zhì)，改善生產(chǎn)方案，從而保障產(chǎn)品品質(zhì)。
AEC-Q認(rèn)證服務(wù)是專門針對(duì)汽車電子零部件設(shè)計(jì)的一系列質(zhì)量評(píng)估與可靠性測(cè)試服務(wù)。它旨在確保汽車電子部件能夠在各種復(fù)雜多變的環(huán)境下穩(wěn)定工作，為汽車的安全性和性能提供堅(jiān)實(shí)的保障。
車規(guī)電子元器件認(rèn)證是對(duì)用于汽車電子領(lǐng)域的元器件進(jìn)行的一系列嚴(yán)格測(cè)試和認(rèn)證，以確保它們能在汽車的各種復(fù)雜環(huán)境中穩(wěn)定、可靠地運(yùn)行。
半導(dǎo)體元器件失效分析檢測(cè)采用光學(xué)傳感器、紅外線探測(cè)器或顯微鏡等技術(shù)，通過觀察和分析半導(dǎo)體元器件表面的光學(xué)特征，來識(shí)別缺陷、污染或結(jié)構(gòu)問題。
廣電計(jì)量車規(guī)電子元器件AEC-Q全系認(rèn)證服務(wù)建成并具備了覆蓋AEC-Q100、101、102、104、200全套認(rèn)證測(cè)試能力，有利地支撐國(guó)產(chǎn)電子元器件的設(shè)計(jì)、制造、終端應(yīng)用過程中的產(chǎn)品分析測(cè)試需求。
X-ray元器件無損檢測(cè)失效分析：X-ray檢測(cè)是一種發(fā)展成熟的無損檢測(cè)方式，目前廣泛應(yīng)用在物料檢測(cè)（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。廣電計(jì)量可針對(duì)對(duì)金屬材料及零部件、電子元器件、電纜，裝具，塑料件等進(jìn)行X-ray無損檢測(cè)。
光電熱機(jī)械全參數(shù)測(cè)試 光電器件：廣電計(jì)量光、電、熱、機(jī)械全參數(shù)測(cè)試服務(wù)可與企業(yè)合作，深入產(chǎn)品研發(fā)階段，有效為產(chǎn)品研發(fā)和定型提供測(cè)試保障。
傳感器液體冷熱沖擊試驗(yàn)：液態(tài)冷熱沖擊試驗(yàn)主要用于兩個(gè)裝置內(nèi)部的液體冷熱交替循環(huán)試驗(yàn)。冷熱沖擊試驗(yàn)是評(píng)價(jià)散熱器抗溫度交變循環(huán)能力的強(qiáng)化試驗(yàn)，為冷卻器的設(shè)計(jì)提供試驗(yàn)數(shù)據(jù)，也是驗(yàn)證冷熱交變溫度下非金屬-金屬連接件的可靠性，對(duì)保證換熱器質(zhì)量和提高其可靠性具有重要作用。廣電計(jì)量可提供傳感器液態(tài)沖擊試驗(yàn)服務(wù)。
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