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光電子器件LED失效分析：隨著LED應(yīng)用的飛速發(fā)展，其失效問題也隨之表現(xiàn)的尤為突出，特別是LED隨機(jī)性不點(diǎn)燈或性不點(diǎn)燈，以及燒燈等，是困擾產(chǎn)品可靠性壽命的關(guān)鍵問題。廣電計(jì)量通過對(duì)LED內(nèi)部的微觀分析，確認(rèn)其結(jié)構(gòu)上的失效特征，可以改進(jìn)設(shè)計(jì)、制造、工藝及應(yīng)用上的潛在或已存在的失效風(fēng)險(xiǎn)，提高產(chǎn)品的可靠性及壽命。
光電器件 電磁繼電器電性能測(cè)試：繼電器是一種自動(dòng)控制開關(guān)，當(dāng)其輸入端的物理量達(dá)到某一量值時(shí)，其輸出端的狀態(tài)發(fā)生階躍式變化。繼電器廣泛應(yīng)用于遙控、遙測(cè)、通訊、自動(dòng)控制、機(jī)電一體化及電力電子設(shè)備中，是最重要的控制元件之一。廣電計(jì)量提供電磁繼電器電性能測(cè)試服務(wù)，為實(shí)際使用發(fā)生失效的繼電器進(jìn)行宏觀及微觀的分析，確定其失效模式及其失效的機(jī)理。
PCB PCBA金相切片試驗(yàn) 光電器件測(cè)試：金相切片是電子行業(yè)中常用的產(chǎn)品內(nèi)部質(zhì)量評(píng)價(jià)方法。廣電計(jì)量擁有完整的切片分析測(cè)試設(shè)備，經(jīng)驗(yàn)豐富的切片分析人才，能夠高效準(zhǔn)確的提供切片服務(wù)。
AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測(cè)試 光電器件:AD/DA轉(zhuǎn)換器是將數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬量的電路，主要用于數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備、醫(yī)療信息處理、電視信號(hào)的數(shù)字化、圖像信號(hào)的處理和識(shí)別、數(shù)字通信和語音信息處理等。對(duì)AD/DA轉(zhuǎn)換器進(jìn)行有效的檢測(cè)，是提高企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量的保證。越復(fù)雜的生產(chǎn)場(chǎng)景對(duì)AD/DA轉(zhuǎn)換器芯片的可靠性越高，電性能測(cè)試是檢驗(yàn)AD/D啊A芯片功能性能可靠性的主要手段。
光電器件三端穩(wěn)壓器電氣性能測(cè)試：三端穩(wěn)壓器主要包括兩種，一種輸出固定電壓，稱為固定輸出三端穩(wěn)壓器；另一種輸出可調(diào)電壓，稱為可調(diào)輸出三端穩(wěn)壓器。兩種穩(wěn)壓器基本原理相同，均采用串聯(lián)型穩(wěn)壓電路。在線性集成穩(wěn)壓器中，由于三端穩(wěn)壓器只有三個(gè)引出端子，具有外接元件少、使用方便、性能穩(wěn)定、價(jià)格低廉等優(yōu)點(diǎn)，因而得到廣泛應(yīng)用。
5G通信 IC芯片開封試驗(yàn)：廣電計(jì)量IC芯片開封試驗(yàn)主要是切開剖面觀察金絲情況，及金球情況，表面鋁線是否受傷，芯片是否有裂縫，光刻是否不良,是否中測(cè)，芯片名是否與布線圖芯片名相符。
功率器件失效分析 電力電子器件：功率器件可靠性是器件廠商和應(yīng)用方除性能參數(shù)外較為關(guān)注的，也是特性參數(shù)測(cè)試無法評(píng)估的，失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應(yīng)用可靠性的基礎(chǔ)。廣電計(jì)量擁有業(yè)界的專家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)的失效分析設(shè)備，專注功率器件失效根因分析，可為客戶提供完整的失效根因分析服務(wù)。
第三代半導(dǎo)體器件全參數(shù)測(cè)試 電力電子器件:廣電計(jì)量專家團(tuán)隊(duì)深入解讀IGBT測(cè)試相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，建立功率模塊可靠性驗(yàn)證技術(shù)能力，可以為功率半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)上下游企業(yè)提供具有專業(yè)性的IGBT及第三代半導(dǎo)體器件全參數(shù)測(cè)試驗(yàn)證報(bào)告。
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