服務(wù)范圍

大規(guī)模集成電路芯片

檢測(cè)項(xiàng)目

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

服務(wù)背景

汽車(chē)新“四化"要求更強(qiáng)大的芯片功能，同時(shí)，車(chē)規(guī)級(jí)集成電路的集成度日益提?，也使車(chē)規(guī)級(jí)半導(dǎo)體芯片結(jié)構(gòu)和制造工藝也日益復(fù)雜。這對(duì)可靠性提出了更高的要求，也帶來(lái)了更大的難度，集成電路更容易失效，但失效定位與根源分析卻成為一大難題。大規(guī)模集成電路失效分析,汽車(chē)電路測(cè)試

我們的優(yōu)勢(shì)

廣電計(jì)量聚焦大規(guī)模集成電路失效分析,汽車(chē)電路測(cè)試技術(shù)，擁有業(yè)界專家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)的失效分析設(shè)備，可為客戶提供完整的失效分析檢測(cè)服務(wù)，幫助制造商快速準(zhǔn)確地定位失效，找到失效根源。同時(shí)，我們可針對(duì)客?的研發(fā)需求，提供不同應(yīng)?下的失效分析咨詢、協(xié)助客戶開(kāi)展實(shí)驗(yàn)規(guī)劃、以及分析測(cè)試服務(wù)，如配合客戶開(kāi)展NPI階段驗(yàn)證，在量產(chǎn)階段(MP)協(xié)助客戶完成批次性失效分析。