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同惠TH513半導體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀是常州同惠電子根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。 儀器采用了一體化集成設計，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動化集成
TH512 半導體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀是常州同惠電子根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。 儀器采用了一體化集成設計，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動化集成。
TH511半導體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀簡介：TH510系列半導體C-V特性分析儀是常州同惠電子根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。 儀器采用了一體化集成設計，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動化集成。
HIOKI日置 3506-10電容電阻測試儀測量儀：對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 C、(tan δ), Q測試，低電阻測量 測試源頻率：1kHz，1MHz 測量時間：1.5ms(1MHz) RS-232C，GP-IB
日置C測試儀3504-60電容檢測測量儀器：封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 靜電容量:最多可分成14類，能簡單地根據(jù)測量值進行分類 控制檢測功能 測試源頻率: 120Hz, 1kHz 高速測量: 2ms RS-232C, GP-IB
HIOKI C測試儀3504-50元器件電容檢測儀器：封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 靜電容量:最多可分成14類，能簡單地根據(jù)測量值進行分類 測試源頻率: 120Hz, 1kHz 高速測量: 2ms RS-232C, GP-IB
HIOKI日置C測試儀電容測試設備 3504-40：封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 測試源頻率: 120Hz, 1kHz 高速測量: 2ms RS-232C
費思FTI5000系列FTI5010-10000保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產(chǎn)品設計的專業(yè)測試設備，嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1-2015及IEC60296-6:2010等國內(nèi)外標準。通過模擬多種復雜工況（如熔斷計時、電流沖擊、耐久測試等），費思FTI5000保險絲測試儀能夠全面驗證保險絲的性能與可靠性，確保產(chǎn)品滿足工業(yè)及汽車電子領域的高標準要求。
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