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ST2500E高密度數(shù)模混合信號測試機廣泛應用于SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、 AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor等半導體晶圓、器件測試和模塊系統(tǒng)級測試。
ST2500A高性能數(shù)模混合信號測試系統(tǒng)是基于ST2500系列產(chǎn)品擴展的一套不僅能夠實現(xiàn)數(shù)字信號測試，同時還能滿足了模擬測試需求的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)具有豐富的板卡資源(DFB32、FOVI50、OTMU、CBIT、SMU20)，可以滿足各類數(shù)模混合高并行測試需求。
ST2516高性能數(shù)字混合信號測試系統(tǒng)，可以實現(xiàn)32~320個數(shù)字通道靈活組合配置，實現(xiàn)最高機器利用率。對于特殊的測試需求，該系統(tǒng)還支持擴展更多的測試板卡及模塊，如SMU、HRAWG、HRDGT、BlueTooth、WiFi等測試模塊。
ST2564高性能數(shù)字混合信號測試系統(tǒng)可以廣泛應用于S0C/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、LED Driver、ClS、指紋芯片、PMIC、Bluetooth、WiFi、loT等半導體晶圓、器件測試和模塊系統(tǒng)級測試。
eATE數(shù)?；旌闲盘枩y試系統(tǒng)是加速科技新推出的一款集成數(shù)字集成電路測試功能的緊湊型可移動測試系統(tǒng)。系統(tǒng)支持50Mbps數(shù)據(jù)速率;業(yè)務功能板卡采用all-in-one設計模式，功能集成度高，體積小巧、簡潔輕便，性價比高，是小型芯片驗證的選擇。
EN-3020B分立器件參數(shù)測試儀采用上位計算機控制，集點測試和曲線掃描為一體，可實現(xiàn)點參數(shù)測試和圖示儀功能。軟件操作界面友好智能，在 PC 窗口提示下輸入被測器件的測試參數(shù)即可完成填表編程，操作人員不需具備專業(yè)計算機編程語言知識，使用簡捷方便。操作軟件采用填入式編程方法，專為國內(nèi)用戶開發(fā)。
ENJ2005-A半導體分立器件測試系統(tǒng)采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規(guī)定的300uS。在PC窗口提示下輸 入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。被測器件引腳接觸自動判斷功能。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應結構的測試工裝，自動補償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電 纜長度引起的壓降，保證測試結果準確可靠。
ENJ2005-B半導體分立器件測試系統(tǒng)，支持電流階梯升級至1250A。采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規(guī)定的300uS。在PC窗口提示下輸 入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。被測器件引腳接觸自動判斷功能。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應結構的測試工裝，自動補償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電 纜長度引起的壓降，保證測試結果準確可靠。
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