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簡(jiǎn)要描述：STS8200模擬IC測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品特點(diǎn)：- 主機(jī)柜由兩個(gè)插件箱組成，每插件箱支持13個(gè)插槽，總共最多支持26個(gè)插槽- 針對(duì)各類模擬，電源管理，信號(hào)鏈產(chǎn)品測(cè)試- 全浮動(dòng)，多通道的V/I源，每路16位的驅(qū)動(dòng)與測(cè)量分辨率- 具備高壓或大功率的選項(xiàng)，單通道1KV，浮動(dòng)高壓源可疊加到2KV- 具備交流源表及任意波形發(fā)生器及數(shù)字化儀，支持音頻測(cè)試- 多通道的高精度時(shí)間測(cè)量單元
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-09-25訪 問(wèn) 量：477產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 |
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STS8200模擬IC測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品特點(diǎn)：
- 主機(jī)柜由兩個(gè)插件箱組成，每插件箱支持13個(gè)插槽，總共最多支持26個(gè)插槽
- 針對(duì)各類模擬，電源管理，信號(hào)鏈產(chǎn)品測(cè)試
- 全浮動(dòng)，多通道的V/I源，每路16位的驅(qū)動(dòng)與測(cè)量分辨率
- 具備高壓或大功率的選項(xiàng)，單通道1KV，浮動(dòng)高壓源可疊加到2KV
- 具備交流源表及任意波形發(fā)生器及數(shù)字化儀，支持音頻測(cè)試
- 多通道的高精度時(shí)間測(cè)量單元
- 最多32路的數(shù)字通道，并支持多種數(shù)字通訊協(xié)議
- 圖形化調(diào)試工具
- 支持并行測(cè)試模式，支持乒乓模式及TWIN模式；支持分站并發(fā)測(cè)試模式
- 增加測(cè)試頭，可擴(kuò)展為混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)
STS8200模擬IC測(cè)試系統(tǒng)主要性能指標(biāo)
| 資源 | 主要性能指標(biāo) | |
| 浮動(dòng)源/表 | FPVI10/FPVI10 PLUS | ●2通道浮動(dòng)V/I,每通道±40V/±10A脈沖,4Kx16Bits AWG,500KSPS 4Kx16Bits 電壓和電流 Digitizer±100V@200mA直流(FPVI10 PLUS版本有此功能) |
| FOVI100 | ●8通道,每4路一組浮動(dòng)V/l,每通道±40V/±100mA直流,±1A脈沖,2Kx16BitsAWG,100KSPS2Kx16Bits 電壓和電流 Digitizer | |
| HVI1K | ●單通道浮動(dòng)V/l,每通道±1000V/±10mA,16-Bit驅(qū)動(dòng)/測(cè)試 | |
| QVM | ●2或4通道浮動(dòng)高精度電壓表,每通道+/-100V測(cè)試范圍,每通道具備18-Bit1MSPS及12-Bit10MSPS Digitizer,每通道存儲(chǔ)深度64Kx18Bits | |
| 時(shí)間測(cè)量 | QTMU PLUS II | ●2或4通道時(shí)間測(cè)試單元,每通道±25V電壓范圍,精度±2ns±0.1%Rd,65pS 分辨率 |
| 數(shù)字通道 | DIO2.0/DIO2.0 PLUS | ●8路數(shù)字通道,-2V-+7V 驅(qū)動(dòng)比較電平,5MHz測(cè)試頻率,64K向量深度1M向量深度 (DIO2.0PLUS 有此功能) |
| 繼 電 器控 制 | CBIT128 | ●128路繼電器控制信號(hào),提供5V/2A,12V/500mA繼電器電源及±15V/500mA模擬電源 |
| 交流源/表 | ACS M PLUS | ●4通道輸出,16-Bit 200KHz的AWG,16-Bit 200KSPS及12-Bit10MSPS Digitizer |
| 應(yīng)用模塊 | PAM | ●最小量程為±1nA的pA微小電流專用測(cè)量模塊 |
| PFM | ●量程分別為1pF/10pF/100pF的pF級(jí)微小電容專用測(cè)量模塊 | |
| OP-AMP Test Kit | ●運(yùn)算放大器及比較器專用測(cè)試套件,最大支持四組運(yùn)放或比較器測(cè)試 | |
| HCM100 | ●20v/100A大功率脈沖模塊 | |
| IPM Test Kit 2.0 | ●IPM測(cè)試頭,以及DC+AC測(cè)試資源,DC達(dá)到100A,AC達(dá)到200A測(cè)試能力 | |
| FET Test Kit | ●基于8200資源,提供標(biāo)準(zhǔn)MOSFET測(cè)試,以及GaN FET測(cè)試,并可以擴(kuò)展測(cè)試動(dòng)態(tài)Ron | |
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