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簡(jiǎn)要描述：DWIT-05匝間短路檢測(cè)儀DWIT系列繼承了之前的脈沖繞組測(cè)試儀“DWX系列"所培育的技術(shù)、性能和可靠性，同時(shí)追求進(jìn)一步的性能改進(jìn)。這是一款精度高、功能豐富、擴(kuò)展性多樣、可操作性提高、外部通訊接口齊全的新型匝間短路檢測(cè)儀。
產(chǎn)品型號(hào)：ECG廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-02-24訪 問 量：768產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣 |
DWIT-05匝間短路檢測(cè)儀
新型匝間短路檢測(cè)儀
DWIT系列繼承了之前的脈沖繞組測(cè)試儀“DWX系列"所培育的技術(shù)、性能和可靠性，同時(shí)追求進(jìn)一步的性能改進(jìn)。
這是一款精度高、功能豐富、擴(kuò)展性多樣、可操作性提高、外部通訊接口齊全的新型匝間短路檢測(cè)儀。
12bit高分辨率,300MHz高速建模高分辨率、高速采樣ADC電路可實(shí)現(xiàn)更高分辨率的波形采集。
高達(dá)16,384點(diǎn)的存儲(chǔ)器可靠地捕捉波形擾動(dòng)和局部放電噪聲，并可在測(cè)試后放大顯示波形。
可通過觸摸屏幕控制光標(biāo)實(shí)時(shí)檢查波形的上升時(shí)間、脈沖寬度和峰值電壓。
通過數(shù)據(jù)庫管理可視化檢查過程主波形、判斷條件和測(cè)試結(jié)果（測(cè)試波形和判斷值）保存在主機(jī)內(nèi)置數(shù)據(jù)庫中。 可以使用 SQL 客戶端軟件從計(jì)算機(jī)遠(yuǎn)程查看。
此外，還可以按通過/失敗以及日期和時(shí)間搜索測(cè)試結(jié)果，這對(duì)于分析 NG 發(fā)生率非常有用。
豐富的可選配件提供豐富的可選功能，包括PD（局部放電）檢測(cè)天線/3ch+GND內(nèi)置開關(guān)電路/4端子測(cè)量電路/施加能量擴(kuò)展/電流測(cè)量。（※有無法同時(shí)搭載的功能，請(qǐng)與我們聯(lián)系）
亮點(diǎn)功能10.1 英寸彩色 TFT LCD 觸摸屏提高了操作性
將屏幕截圖保存到外部存儲(chǔ)器（USB、SD）
通過[平均/合成/測(cè)試波形]創(chuàng)建主波形
可高效、無損地對(duì)處于繞線狀態(tài)的測(cè)試對(duì)象進(jìn)行電氣測(cè)試。 該測(cè)試的原理是向參考繞組（主線圈）和被測(cè)繞組（測(cè)試對(duì)象）施加脈沖電壓，通過比較波形的方式來判斷優(yōu)良的方式。 線圈發(fā)生衰減意味著該線圈內(nèi)存在電感和Q值。可同時(shí)檢測(cè)線圈的繞線有無差異，線圈有無發(fā)生短路，鐵芯材質(zhì)是否發(fā)生變化等。 此外，通過施加高脈沖電壓，可以觀察線圈是否發(fā)生放電及絕緣不良。 總之，繞組質(zhì)量所需的絕大部分特性都可以在極短的時(shí)間內(nèi)進(jìn)行檢測(cè)。
連續(xù)輸出電壓模式可任意設(shè)定連續(xù)輸出電壓的時(shí)間和次數(shù)。該功能可有效評(píng)價(jià)測(cè)試物的絕緣性能。同時(shí)，通過配合使用PD感應(yīng)器，可檢測(cè)出局部放電發(fā)生為止的時(shí)間和次數(shù)。
檢測(cè)結(jié)果模式檢測(cè)結(jié)果實(shí)時(shí)保存至主機(jī)記憶體內(nèi)。判定的結(jié)果，不良時(shí)的具體內(nèi)容通過圖表和數(shù)值的形式顯示。此外，可保存過去 1000 次檢測(cè)結(jié)果的檢測(cè)畫面，并反復(fù)觀看。
引入新的指標(biāo)來指示測(cè)試對(duì)象的特性并測(cè)量實(shí)際值
1.Frequency共振頻率f
測(cè)定自我共振波形的周期，并算出頻率。由檢測(cè)物的電感和電容成分的變化或者由于損耗而出現(xiàn)頻率變化。
2.Logarithmic decrement對(duì)數(shù)衰減率σ
測(cè)定自我共振波形的振幅，并算出對(duì)數(shù)衰減率。由檢測(cè)物的電感和電容成分的變化或者由于損耗而出現(xiàn)對(duì)數(shù)衰減率變化。
3.Peak stability共振波形峰值電壓V
測(cè)定自我共振波形的峰值電壓，并算出振幅的強(qiáng)度。由于波形畸變和放電干擾導(dǎo)致峰值電壓發(fā)生變化，因此它顯示了測(cè)試對(duì)象中造成的損耗。
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