




簡(jiǎn)要描述:ZEISS METROTOM 1 x射線工業(yè)ct設(shè)備使用方便,可提供精確的三維數(shù)據(jù),確保由內(nèi)而外的質(zhì)量控制。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | ZEISS/蔡司 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池,電氣 |
ZEISS METROTOM 1 x射線工業(yè)ct設(shè)備使用方便,可提供精確的三維數(shù)據(jù),確保由內(nèi)而外的質(zhì)量控制。

ZEISS METROTOM 1為您工作的快速推進(jìn)保駕護(hù)航:無(wú)需對(duì)零件進(jìn)行任何預(yù)處理,即可采集精確的3D數(shù)據(jù)。借助計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù),您可以對(duì)零件進(jìn)行無(wú)損掃描并查看內(nèi)部結(jié)構(gòu)。能夠測(cè)量、分析和檢驗(yàn)隱蔽缺陷及內(nèi)部結(jié)構(gòu)。與ZEISS INSPECT軟件結(jié)合使用,達(dá)到了簡(jiǎn)化質(zhì)量控制流程的新境界。

該系統(tǒng)操作簡(jiǎn)便,各類用戶都可以通過(guò)該系統(tǒng)開(kāi)啟測(cè)量過(guò)程,并獲取精確的數(shù)據(jù)。METROTOM 1體積小巧,可輕松適配您的空間。只需按下按鈕,即可在機(jī)構(gòu)內(nèi)部開(kāi)始測(cè)量和檢查。這款智能、緊湊型解決方案配備了封閉式X射線管,旨在降低維護(hù)成本。

您可以使用METROTOM 1進(jìn)行無(wú)損掃描,檢驗(yàn)內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷。無(wú)需對(duì)零件進(jìn)行任何預(yù)處理,即可開(kāi)始測(cè)量過(guò)程。在掃描下一個(gè)零件時(shí),可同時(shí)對(duì)上一個(gè)零件進(jìn)行檢驗(yàn)或逆向工程。

同時(shí)測(cè)量多個(gè)零件是METROTOM 1高效的功能之一。規(guī)則很簡(jiǎn)單:大程度地利用測(cè)量體積,實(shí)現(xiàn)大批量測(cè)量。結(jié)果:在確保測(cè)量效果的同時(shí),縮短了每個(gè)零件的掃描時(shí)間。ZEISS INSPECT可自動(dòng)分離和評(píng)估各個(gè)零件,從而快速提供測(cè)量結(jié)果報(bào)告。

METROTOM 1搭載的ZEISS INSPECT軟件可指導(dǎo)您逐步完成測(cè)量過(guò)程。憑借體積可視化以及對(duì)掃描數(shù)據(jù)的檢驗(yàn)功能,您可以了解零件的所有尺寸,包括隱藏部分的尺寸信息。通過(guò)對(duì)零件內(nèi)部和外部結(jié)構(gòu)的掃描,可以輕松對(duì)零件進(jìn)行逆向工程處理。
既簡(jiǎn)單又高效。僅需一次掃描。METROTOM 1可為您提供以下支持:
對(duì)中小型部件進(jìn)行3D掃描
精確測(cè)量
質(zhì)量檢驗(yàn)和保證
對(duì)廢品進(jìn)行深入分析
對(duì)照CAD檢查相應(yīng)的部件

電壓、功率、曝光時(shí)間和步數(shù)是計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)的一些重要測(cè)量參數(shù)。ZEISS METROTOM 1在運(yùn)行過(guò)程中,會(huì)依托ZEISS INSPECT自動(dòng)確定這些參數(shù)值。軟件可為您提供最佳起始值,從而降低掃描設(shè)置的復(fù)雜度。METROTOM 1以操作簡(jiǎn)便、采集速度快和評(píng)估功能直觀為立足之本。一體化概念值得信賴。

ZEISS METROTOM 1 x射線工業(yè)ct設(shè)備可在多種環(huán)境中使用。其設(shè)計(jì)堅(jiān)固耐用,除此之外,還可以防止內(nèi)部溫度出現(xiàn)波動(dòng)。主動(dòng)冷卻系統(tǒng)可確保系統(tǒng)正常運(yùn)行:它能確保系統(tǒng)內(nèi)外溫度相同,防止零件發(fā)生任何熱膨脹。METROTOM 1是一款采用了前沿技術(shù)的、穩(wěn)定的重負(fù)載系統(tǒng)。

METROTOM 1搭載 ZEISS INSPECT軟件,是以用戶為中心的一體化軟件解決方案,也是三維計(jì)量的既定標(biāo)準(zhǔn)。它功能強(qiáng)大,包括體積可視化和檢驗(yàn)、尺寸計(jì)量、趨勢(shì)分析和比較、缺陷檢測(cè)和檢驗(yàn)等,使其成為可充分發(fā)揮系統(tǒng)各項(xiàng)功能的理想工具。

在生產(chǎn)過(guò)程中以及現(xiàn)場(chǎng)安裝后,每臺(tái)METOROTOM 1均會(huì)接受精度檢查。進(jìn)行精度檢查時(shí),會(huì)使用經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)和德國(guó)認(rèn)可委員會(huì)(DAkkS)認(rèn)證的驗(yàn)收工具。您可以隨時(shí)使用現(xiàn)場(chǎng)的校準(zhǔn)物重新校準(zhǔn)掃描儀。

在165 x 140 mm的測(cè)量體積內(nèi),可以輕松測(cè)量任何零件??赏ㄟ^(guò)數(shù)字方式對(duì)測(cè)量體積進(jìn)行微調(diào)。同時(shí),還可以根據(jù)需要調(diào)整分辨率,加快測(cè)量過(guò)程,從而縮短掃描時(shí)間。

這款緊湊型系統(tǒng)配備以下配件:
校準(zhǔn)物
連續(xù)掃描模式
ZEISS INSPECT
160 kV的X射線源
主動(dòng)溫度控制
操作站
2.5k探測(cè)器
溫控柜
ZEISS研發(fā)的探測(cè)器

質(zhì)量控制和檢驗(yàn)
CAD與零件的標(biāo)稱值/實(shí)際值比較
尺寸測(cè)量
零件任意深度的截面檢驗(yàn)
分析壁厚分布
功能尺寸
工具和模具制造
通過(guò)掃描按不同參數(shù)生產(chǎn)的多個(gè)樣品,確保準(zhǔn)確無(wú)誤
減少了過(guò)程中的迭代次數(shù)
通過(guò)快速檢驗(yàn)多個(gè)零件來(lái)監(jiān)控生產(chǎn)過(guò)程
工具/模具獲批后采集實(shí)際值
部件翹曲補(bǔ)償
產(chǎn)品研發(fā)和設(shè)計(jì)
檢查透明物體和軟聚合物等高要求產(chǎn)品
組件的功能和誤差分析
無(wú)損分析材料缺陷,如氣孔、孔隙或裂紋
對(duì)現(xiàn)有零件或零件幾何形狀進(jìn)行逆向工程
驗(yàn)證工程設(shè)計(jì)
METROTOM 1
X射線源 160 kV
X射線探測(cè)器(像素) 2.5 k (2,500 x 2,500)
測(cè)量體積 165 x 140 mm
計(jì)量規(guī)格(MPE SD) 5 µm +L/100
尺寸 1750 mm(寬)x 1820 mm(高)x 870 mm(深)
重量 2100 kg
軟件 ZEISS INSPECT
體素尺寸 低至 32.6 µm
產(chǎn)品咨詢
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