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簡要描述：CINDBEST CJ-4高溫測試測量探針臺大可用于8英寸以內(nèi)樣品測試 ；可滿足500度高溫測試 ；溫度穩(wěn)定性高 ；兼容IV/CV/RF測試
產(chǎn)品型號：CJ-4廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2024-01-27訪 問 量：2514詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣 |
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CINDBEST CJ-4高溫測試測量探針臺
大可用于8英寸以內(nèi)樣品測試 ；
可滿足500度高溫測試 ；
溫度穩(wěn)定性高 ；兼容IV/CV/RF測試
CINDBEST CJ-4高溫測試測量探針臺
特點/應(yīng)用
大可用于8英寸以內(nèi)樣品測試
同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu)，線性移動
可滿足500度高溫測試
溫度穩(wěn)定性高
兼容IV/CV/RF測試
結(jié)構(gòu)設(shè)計簡單合理，操作方便
探針臺可根據(jù)客戶要求定制
臺體規(guī)格：
型號 | CJ-4/CJ-6/CJ-8 |
樣品臺尺寸 | 4英寸/6英寸/8英寸 |
水平旋轉(zhuǎn) | 可360度旋轉(zhuǎn)，可微調(diào)15度，精度0.1度，帶角度鎖死裝置 |
X-Y移動行程 | 4英寸*4英寸/6英寸*6英寸/8英寸*8英寸 |
X-Y移動精度 | 10微米/1微米 |
樣品固定 | 真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環(huán) |
針座平臺 | U型針座平臺，多可放置8個探針座 |
背電極測試 | 樣品臺電學(xué)獨立懸空，4mm插孔可接背電極 |
溫度范圍 | 室溫到300度/室溫到400度/室溫到600度 |
溫控精度 | 1度/0.1度/0.01度 |
穩(wěn)定性 | ±1度/±0.1度 |
外形尺寸 | 400mm長*400mm寬*600mm高/580mm長*480mm寬*600mm高/840mm長*600mm寬*700mm高 |
重量 | 約30千克/60千克/100千克 |
光學(xué)系統(tǒng)：
顯微鏡類型 | 單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡 |
放大倍率 | 16X-200X/20X-4000X |
移動行程 | X-Y軸行程2英寸*2英寸/水平360度旋轉(zhuǎn)，Z軸行程50.8mm |
光源 | 外置LED環(huán)形光源/同軸光源 |
CCD | 200萬像素/500萬像素/1200萬像素 |
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